Polytec MSA-650 IRIS激光振测仪

湖北卓镁专业销售Polytec光电测速器，Polytec光电开关，Polytec放大器，Polytec 传感器，Polytec连接器，Polytec激光测振仪，Polytec振动测量仪，Polytec分析仪

品　　牌：: Polytec
产　　地：: 德国
型　　号：: Polytec MSA-650 IRIS激光振测仪
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Polytec MSA-650 IRIS激光振测仪介绍
应用光学检测硅封装MEMS元器件内部结构振动特点
MEMS元器件的信息特点检测和机械设备回应数据可视化针对产品研发、常见故障解决和有限元分析实体模型认证而言十分关键。
Polytec企业的MSA显微镜式激光测振仪能迅速、精确地检测超微结构的面外振动(OOP)揉面内振动(IP)。
全新升级的MSA-650IRIS显微镜式激光测振仪乃至可以通过完善的小型硅密封性元器件开展检测，如惯性力传感器，MEMS话筒，工作压力传感器等。
根据硅封装元器件的不一样层检测MEMS动态性特点
即时面外振动检测，较大网络带宽达到25MHz
亚皮米级面外振动偏移屏幕分辨率
MEMS元器件的最后有限元分析实体模型认证
能够更好地分离出来元器件的每个层
频闪法检测平行面振动，网络带宽达到2.5MHz
便于集成化至生产流水线的自动测量系统软件(兼容商业探针台)
能够更好地分离出来元器件的每个层

特点
MSA-650IRIS检测系统软件包含控制板、含有附加参照安全通道的频率计，极高精密度红外光源的光学头和强有力的配套设施程序包。
其专用型的红外相机和低相关SLD源，是在其通过硅帽获得详细硅封装构造在作业情况下的全部层制构造的信息性能的重要。
硅封装MEMS元器件的多形式检测
因为硅在光波长为1050nm以上的近红外光谱中是通透的，根据红外线干涉仪的振动精确测量技术性促使获得密封性MEMS元器件最真正和最有象征性的振动特点变成很有可能。
Polytec全新升级的最现代化的且已得到发明的MSA系统软件能保证最好网站安全性，更强的分离出来MEMS元器件的每个层。MSA-650IRIS显微镜式激光测振仪内嵌专用型红外相机和低相关SLD源，是当前通过硅封装构造获得详细动态性性能的系统软件，实际上时面外振动网络带宽达到25MHz，平行面振动屏幕分辨率低至30nm。